Основные направления деятельности

Основные направления деятельности:
Технологии

  • Технологии диэлектрических тонких пленок и наноструктур, в том числе активных диэлектриков, пористых материалов, проводящих оксидов и композитов
  • Плёнкообразующие растворы и методы формирования гетероструктур на основе сегнетоэлектриков, мультиферроиков, проводящих оксидов (PZT, BST, BFO, LNO и другие)
  • Плёнкообразующие растворы и методы формирования пористых сегнетоэлектриков и композитов
  • Плёнкообразующие растворы и методы формирования пористых изолирующих диэлектриков с низкой диэлектрической проницаемостью (low-k) методами молекулярной самосборки
  • Плёнкообразующие растворы для получения различных оксидов (Si, Ti, Zr и другие) и неорганически-органических гибридов, включая периодические мезопористые оксиды
  • Процессы создания изолирующих и планаризирующих слоёв в BEOL и FEOL процессах
  • Сегнетоэлектрические тонкие плёнки, гетеро- и наноструктуры, композиты
  • CSD и ALD технологии осаждения

Химическая лаборатория и технологический участок с локальной чистой зоной

    Синтез алкоксидных прекурсоров
    Hotplate обработка пленок

Нанесение пленок

Устройства

  • Многоуровневые системы металлизации СБИС с низкой диэлектрической проницаемостью
  • Пьезоэлектрические МЭМС и датчики
  • Энергонезависимые CЗУ – FRAM, стойкие к экстремальным факторам
  • Защитные, планаризующие, пассивирующие покрытия
  • Плёнки для оптических и иных применений

Методы контроля

  • Физические процессы в диэлектриках и сегнетоэлектриках
  • Вольт-амперные характеристики, определение времён релаксации, методы определения стационарных токов утечки, механизмы транспорта носителей заряда
  • Вольт-фарадные характеристики, температурные циклы диэлектриков
  • Поляризация, хранение, переключение заряда, число циклов в сегнетоэлектриках
  • Толщина и показатель преломления (спектральная эллипсометрия)
  • Эллипсометрическая порометрия (пористость, размер пор, модуль Юнга)
  • Определение угла смачивания
  • ИК-Фурье спектроскопия тонких плёнок
  • Состав и кристаллическая структура

Эллипсометрические исследования

Исследование спектральных характеристик

Исследование электрических свойств гетероструктур

Обучение

  • магистерская программа «Технологии перспективной элементной базы микро- и наноэлектроники»
  • аспирантура: специальности 05.27.01 и 05.27.06

Исследование электрических свойств гетероструктур

Перспективы

  • технологические и химические участки с «чистыми комнатами»
  • устройства электроники на новых физических принципах