Основные направления деятельности
Основные направления деятельности:
Технологии
- Технологии диэлектрических тонких пленок и наноструктур, в том числе активных диэлектриков, пористых материалов, проводящих оксидов и композитов
- Плёнкообразующие растворы и методы формирования гетероструктур на основе сегнетоэлектриков, мультиферроиков, проводящих оксидов (PZT, BST, BFO, LNO и другие)
- Плёнкообразующие растворы и методы формирования пористых сегнетоэлектриков и композитов
- Плёнкообразующие растворы и методы формирования пористых изолирующих диэлектриков с низкой диэлектрической проницаемостью (low-k) методами молекулярной самосборки
- Плёнкообразующие растворы для получения различных оксидов (Si, Ti, Zr и другие) и неорганически-органических гибридов, включая периодические мезопористые оксиды
- Процессы создания изолирующих и планаризирующих слоёв в BEOL и FEOL процессах
- Сегнетоэлектрические тонкие плёнки, гетеро- и наноструктуры, композиты
- CSD и ALD технологии осаждения
Химическая лаборатория и технологический участок с локальной чистой зоной
Синтез алкоксидных прекурсоров
Hotplate обработка пленок
Нанесение пленок
Устройства
- Многоуровневые системы металлизации СБИС с низкой диэлектрической проницаемостью
- Пьезоэлектрические МЭМС и датчики
- Энергонезависимые CЗУ – FRAM, стойкие к экстремальным факторам
- Защитные, планаризующие, пассивирующие покрытия
- Плёнки для оптических и иных применений
Методы контроля
- Физические процессы в диэлектриках и сегнетоэлектриках
- Вольт-амперные характеристики, определение времён релаксации, методы определения стационарных токов утечки, механизмы транспорта носителей заряда
- Вольт-фарадные характеристики, температурные циклы диэлектриков
- Поляризация, хранение, переключение заряда, число циклов в сегнетоэлектриках
- Толщина и показатель преломления (спектральная эллипсометрия)
- Эллипсометрическая порометрия (пористость, размер пор, модуль Юнга)
- Определение угла смачивания
- ИК-Фурье спектроскопия тонких плёнок
- Состав и кристаллическая структура
Эллипсометрические исследования
Исследование спектральных характеристик
Исследование электрических свойств гетероструктур
Обучение
- магистерская программа «Технологии перспективной элементной базы микро- и наноэлектроники»
- аспирантура: специальности 05.27.01 и 05.27.06
Исследование электрических свойств гетероструктур
Перспективы
- технологические и химические участки с «чистыми комнатами»
- устройства электроники на новых физических принципах